场发射扫描电镜（SEM）
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扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息进行收集、放大、再成像，以达到对物质微观形貌表征的目的。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
样品要求：
1、粉体需5mg左右；块体长宽高需小于10mm（超出该尺寸请提前联系工作人员确认，镶嵌样及多孔材料抽真空时间较长，尺寸尽量小一些，非特殊原因请务必按要求制样，以免耽误测试效果及周期）；液态或粘稠样品务必烘干寄样，如电子束照射下流动变形，则无法拍摄；
2、含铁、钴、镍、锰等磁性元素均视为磁性样品（吸铁石能吸起来为强磁，吸铁石吸不起来为弱磁）。若样品有磁性，务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；
1、粉体需5mg左右；块体长宽高需小于10mm（超出该尺寸请提前联系工作人员确认，镶嵌样及多孔材料抽真空时间较长，尺寸尽量小一些，非特殊原因请务必按要求制样，以免耽误测试效果及周期）；液态或粘稠样品务必烘干寄样，如电子束照射下流动变形，则无法拍摄；
2、含铁、钴、镍、锰等磁性元素均视为磁性样品（吸铁石能吸起来为强磁，吸铁石吸不起来为弱磁）。若样品有磁性，务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；
